H-TS系列冷熱沖擊試驗(yàn)箱可以用于電工電子元器件及其他產(chǎn)品整機(jī)、組件、零部件及材料的環(huán)境模擬、可靠性測試及應(yīng)力篩選試驗(yàn)。試驗(yàn)箱可以提供固定不動的試驗(yàn)空間，在試件允許上下限溫度間內(nèi)進(jìn)行溫度急劇變化的冷熱沖擊試驗(yàn)。

    冷熱沖擊箱采用平衡調(diào)溫調(diào)濕（BTHC）高精度溫濕度控制系統(tǒng)，設(shè)計熱氣旁路節(jié)能和吸氣冷卻旁路保護(hù)壓縮機(jī)安全?？刂葡到y(tǒng)的DCU.ACU 輸入輸出控制模塊，根據(jù)試驗(yàn)條件自動調(diào)節(jié)制冷機(jī)的開啟和運(yùn)行工況。

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